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產(chǎn)品展示PRODUCTS
Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀
產(chǎn)品時間：2024-03-28
Ourstex 100FA能量色散型X射線熒光光譜儀的X射線管發(fā)射出初級X射線到樣品上，通過半導體探測器檢測樣品激發(fā)出的熒光X射線，從而對樣品元素進行無損定性和定量分析。半導體探測器采用帶電動冷卻系統(tǒng)的硅漂移探測器（SDD），無需液氮冷卻，結(jié)合數(shù)字信號處理器（DSP），使得測試結(jié)果具有高分辨力。為了提高分析性能，良好的光學激發(fā)系統(tǒng)使得半導體探測器達到了很高的能量分辨率和測量靈敏度。
Ourstex 100FA能量色散型X射線熒光光譜儀的X射線管發(fā)射出初級X射線到樣品上，通過半導體探測器檢測樣品激發(fā)出的熒光X射線，從而對樣品元素進行無損定性和定量分析。半導體探測器采用帶電動冷卻系統(tǒng)的硅漂移探測器(SDD)，無需液氮冷卻，結(jié)合數(shù)字信號處理器(DSP)，使得測試結(jié)果具有高分辨力。為了提高分析性能，良好的光學激發(fā)系統(tǒng)使得半導體探測器達到了很高的能量分辨率和測量靈敏度。
Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀特點：
快速無損地進行成分分析
對大而/或不規(guī)則的試樣進行
近距離分析曲面試樣
小巧輕便，適用于現(xiàn)場分析
非接觸分析
Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀應(yīng)用：
考古調(diào)查/分析
文化資產(chǎn)分析
工業(yè)材料R&D評定,質(zhì)量控制
高校/研究所材料研究分析
廢料鑒別
Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀技術(shù)規(guī)格：
| 測定原理 | 能量色散型X射線熒光分析法 | |
| 測定對象 | 固體、粉末、液體、薄膜、土壤滲出水、污水等 | |
| 測定元素 | 11Na-92U | |
| 樣品形狀大小 | 封閉使用時35*35mm(直徑*高度) 開放使用時任意 | |
| 發(fā)射源 | X射線 | |
| 樣品倉環(huán)境 | 大氣（真空可選） | |
| 測量范圍 | 約3mm直徑范圍 | |
| 射線輸出 | 40kV-1.75mA，50W | |
| 檢測器 | 電子冷卻式SDD | |
| 數(shù)據(jù)處理 | 數(shù)字處理方式DSP（Digital Signal Processor） | |
| 軟件 | 自動定性分析、檢測線法定量分析、FP法定量分析（可選） | |
| 使用條件 | 溫度：5~27°C | |
| 濕度：20~75% | ||
| 電源：AC 100, 5A或AC 220, 3A | ||
| 設(shè)置：D型接地線 | ||
| 其他附屬 | 噴墨式彩色打印機，鼠標等。 | |
| 尺寸規(guī)格 | 測量頭：133*170*273mm,3.9kg XG部：320*340*80mm,9.2kg 控制器部：265*340*120mm,9kg 真空泵：190*177*132mm,3kg | |
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