Nanotec研磨拋光機(jī)

產(chǎn)品時(shí)間：2024-03-28

Nanotec自動(dòng)研磨拋光機(jī)用于簡單的薄膜厚度測量，自動(dòng)拋光機(jī)用旋轉(zhuǎn)的鋼球?qū)悠愤M(jìn)行拋光，并用光學(xué)顯微鏡測量拋光痕跡。旋轉(zhuǎn)的鋼球?qū)悠愤M(jìn)行拋光，用光學(xué)顯微鏡測量拋光痕跡，即可測出膜厚。

產(chǎn)品介紹

Nanotec研磨拋光機(jī)用于簡單的薄膜厚度測量

自動(dòng)拋光機(jī)用旋轉(zhuǎn)的鋼球?qū)悠愤M(jìn)行拋光，并用光學(xué)顯微鏡測量拋光痕跡。旋轉(zhuǎn)的鋼球?qū)悠愤M(jìn)行拋光，用光學(xué)顯微鏡測量拋光痕跡，即可測出膜厚。

Nanotec研磨拋光機(jī)特點(diǎn)：
無需樣品準(zhǔn)備

橫斷面測量不需要樣品準(zhǔn)備，如切割、拋光或樹脂嵌入，拍攝的樣品可以按原樣測量。

可以對(duì)多層薄膜進(jìn)行評(píng)價(jià)

可以通過化學(xué)處理改變膜的成分作為色調(diào)的差異來評(píng)價(jià)各層膜的厚度
可以評(píng)估每層的薄膜厚度

Nanotec研磨拋光機(jī)應(yīng)用：

TiN、CrN、TiAlN、TiCN等，DLC、電鍍、多層膜

通過測量拋光痕跡的結(jié)果，對(duì)各層涂層的厚度進(jìn)行評(píng)價(jià)，根據(jù)ISO 26423：2009

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) -Determination of coating thickness by crater-grinding method（凹坑研磨法測定涂層厚度）的計(jì)算方法，計(jì)算涂層厚度。為了使用本試驗(yàn)機(jī)測量涂層厚度，需要配合使用能夠測量研磨痕跡的顯微鏡。

Nanotec研磨拋光機(jī)測厚原理：

首先，加入金剛石漿料，用旋轉(zhuǎn)的鋼球?qū)悠繁砻孢M(jìn)行拋光。接下來，觀察拋光痕跡，測量上圖中X與Y之間的距離。